Предыдущий
Высокоточный ручной рефлектометр ET 100
Высокоточный ручной рефлектометр ET 100
Следующий
Портативный рефлектометр SOC 410-Vis-IR
Портативный рефлектометр SOC 410-Vis-IR
Лабораторный рефлектометр SOC 100
По запросу
Просмотров: 1417
SOC-100 Рефлектометр для измерения полусферически-направленного коэффициента отражения
Рефлектометр SOC-100 в сочетании со специализированным программным обеспечением служит эффективным средством решения многих инженерных задач:
Традиционные методы измерения диффузного коэффициента отражения материалов основаны на применении интегрирующей сферы, улавливающей диффузно отраженную энергию. Однако ввиду особенностей регистрации этой энергии интегрирующей сферой такие методы позволяют измерять коэффициент диффузного отражения только для неполяризованного излучения с длиной волны примерно до 14 мкм. Диффузное освещение образца в рефлектометре SOC-100 осуществляется за счет полуэллипсоида с высокоотражающей внутренней поверхностью, которая обеспечивает многократное отражение распространяющегося в телесном угле 2π стерадиан излучения технологического абсолютно черного тела с рабочей температурой 700 °C. Установленное сверху подвижное зеркало собирает энергию, отраженную под заданным углом, и перенаправляет коллимированный пучок излучения на ИК-Фурье-спектрометр. Согласно теореме взаимности, такие измерения полусферически-направленного коэффициента отражения эквивалентны измерениям направленно-полусферического коэффициента отражения (DHR).
Поскольку эллипсоид с высокоотражающей внутренней поверхностью обеспечивает освещение образца технологическим абсолютным черным телом, представляющим собой диффузный излучатель, за счет радиационного обмена в ходе многократных отражений, величина энергии отраженного излучения максимальна, что позволяет проводить измерения для поляризованного излучения в дальней ИК-области спектра. Измерения выполняются относительным методом, с калибровкой по эталонному образцу с зеркальной поверхностью, имеющему известные параметры.
Рефлектометр SOC-100 также способен измерять коэффициент коллимированного и диффузного пропускания образцов. Специальная заслонка, блокирующая зеркальную составляющую отраженного пучка, позволяет разделять рассеянную энергию на зеркальную и диффузную компоненты. Программное обеспечение, поставляемое в комплекте с рефлектометром SOC-100, имеет типичный для приложений Microsoft Windows® интерфейс. Оно отвечает за работу ИК-Фурье-спектрометра и обладает всеми необходимыми функциями для полного контроля регистрации данных, включая управление проектами, архивирование данных и составление отчетов. Совместимо с программным пакетом OMNIC. Доступны дополнительные программные пакеты для определения оптических постоянных, разработки диффузных покрытий, термического анализа и моделирования ИК-изображений.
Измеряемые параметры
Коэффициент отражения излучения с параллельной и перпендикулярной поляризацией и неполяризованного излучения при выбираемых пользователем углах падения в диапазоне от 10 до 80°.
Разделение коэффициента отражения на диффузную и зеркальную компоненты. Коэффициент коллимированного и диффузного пропускания при угле падения 0°.
Направленный коэффициент излучения в зависимости от угла в диапазоне от 10 до 80°, длины волны и температуры вплоть до уровня свыше 500 °C.
Полный полусферический коэффициент излучения в зависимости от температуры.
Формат данных: таблицы ERAS, ASTM. Графическое представление данных, линейная и логарифмическая шкала, мкм или см–1, зависимость коэффициента отражения от длины волны и от угла.
Программное обеспечение
Стандартное программное обеспечение: управление прибором, управление проектами и базами данных, программное обеспечение OMNIC, поставляемое в комплекте со стандартными ИК-Фурье-спектрометрами Nicolet.
Дополнительное программное обеспечение: определение оптических постоянных, проведение анализа в процессе разработки покрытий, моделирование ИК-изображений, термический анализ.
Сферы применения
Моделирование ИК-изображений и разработка ИК-материалов, обнаружение и измерение поверхностных загрязнений, определение характеристик рассеяния и степени зеркальности, измерение коэффициента отражения поляризованного излучения для расчета оптических постоянных (
Рефлектометр SOC-100 в сочетании со специализированным программным обеспечением служит эффективным средством решения многих инженерных задач:
- Исследование процессов теплообмена
- Сигнатурный анализ
- Разработка покрытий
- Контроль качества
- Количественный анализ
- Оптические исследования
Традиционные методы измерения диффузного коэффициента отражения материалов основаны на применении интегрирующей сферы, улавливающей диффузно отраженную энергию. Однако ввиду особенностей регистрации этой энергии интегрирующей сферой такие методы позволяют измерять коэффициент диффузного отражения только для неполяризованного излучения с длиной волны примерно до 14 мкм. Диффузное освещение образца в рефлектометре SOC-100 осуществляется за счет полуэллипсоида с высокоотражающей внутренней поверхностью, которая обеспечивает многократное отражение распространяющегося в телесном угле 2π стерадиан излучения технологического абсолютно черного тела с рабочей температурой 700 °C. Установленное сверху подвижное зеркало собирает энергию, отраженную под заданным углом, и перенаправляет коллимированный пучок излучения на ИК-Фурье-спектрометр. Согласно теореме взаимности, такие измерения полусферически-направленного коэффициента отражения эквивалентны измерениям направленно-полусферического коэффициента отражения (DHR).
Поскольку эллипсоид с высокоотражающей внутренней поверхностью обеспечивает освещение образца технологическим абсолютным черным телом, представляющим собой диффузный излучатель, за счет радиационного обмена в ходе многократных отражений, величина энергии отраженного излучения максимальна, что позволяет проводить измерения для поляризованного излучения в дальней ИК-области спектра. Измерения выполняются относительным методом, с калибровкой по эталонному образцу с зеркальной поверхностью, имеющему известные параметры.
Рефлектометр SOC-100 также способен измерять коэффициент коллимированного и диффузного пропускания образцов. Специальная заслонка, блокирующая зеркальную составляющую отраженного пучка, позволяет разделять рассеянную энергию на зеркальную и диффузную компоненты. Программное обеспечение, поставляемое в комплекте с рефлектометром SOC-100, имеет типичный для приложений Microsoft Windows® интерфейс. Оно отвечает за работу ИК-Фурье-спектрометра и обладает всеми необходимыми функциями для полного контроля регистрации данных, включая управление проектами, архивирование данных и составление отчетов. Совместимо с программным пакетом OMNIC. Доступны дополнительные программные пакеты для определения оптических постоянных, разработки диффузных покрытий, термического анализа и моделирования ИК-изображений.
Измеряемые параметры
Коэффициент отражения излучения с параллельной и перпендикулярной поляризацией и неполяризованного излучения при выбираемых пользователем углах падения в диапазоне от 10 до 80°.
Разделение коэффициента отражения на диффузную и зеркальную компоненты. Коэффициент коллимированного и диффузного пропускания при угле падения 0°.
Направленный коэффициент излучения в зависимости от угла в диапазоне от 10 до 80°, длины волны и температуры вплоть до уровня свыше 500 °C.
Полный полусферический коэффициент излучения в зависимости от температуры.
Формат данных: таблицы ERAS, ASTM. Графическое представление данных, линейная и логарифмическая шкала, мкм или см–1, зависимость коэффициента отражения от длины волны и от угла.
Программное обеспечение
Стандартное программное обеспечение: управление прибором, управление проектами и базами данных, программное обеспечение OMNIC, поставляемое в комплекте со стандартными ИК-Фурье-спектрометрами Nicolet.
Дополнительное программное обеспечение: определение оптических постоянных, проведение анализа в процессе разработки покрытий, моделирование ИК-изображений, термический анализ.
Сферы применения
Моделирование ИК-изображений и разработка ИК-материалов, обнаружение и измерение поверхностных загрязнений, определение характеристик рассеяния и степени зеркальности, измерение коэффициента отражения поляризованного излучения для расчета оптических постоянных (
n, k) сыпучих и порошковых материалов, измерение коэффициента излучения в зависимости от температуры и длины волны для проведения термического анализа и исследования процессов теплообмена, определение полной картины диффузного пропускания в пределах больших телесных углов вплоть до полусферы в 2π стерадиан.
Коэффициент отражения излучения с перпендикулярной и параллельной поляризацией для плавленого кварца на длине волны 12 мкм
Измерения, управляемые компьютером
Автоматические измерения осуществляются при помощи пяти управляемых компьютером шаговых двигателей, которые обеспечивают выбор поляризации (параллельная, перпендикулярная, отсутствие поляризации), изменение угла падения, сравнение исследуемого образца с эталонным и установку заслонки в нужное положение. Прерывание испускаемого источником пучка излучения синхронизировано с перемещением зеркала ИК-Фурье-спектрометра, которое устраняет ошибку, связанную с излучением самого образца.
Эквивалентная схема измерения полусферически-направленного коэффициента отражения
Излучение источника равномерно освещает образец; пучок рассеянного излучения регистрируется под углом Q.
Коэффициент отражения излучения с перпендикулярной и параллельной поляризацией для плавленого кварца на длине волны 12 мкм
Измерения, управляемые компьютером
Автоматические измерения осуществляются при помощи пяти управляемых компьютером шаговых двигателей, которые обеспечивают выбор поляризации (параллельная, перпендикулярная, отсутствие поляризации), изменение угла падения, сравнение исследуемого образца с эталонным и установку заслонки в нужное положение. Прерывание испускаемого источником пучка излучения синхронизировано с перемещением зеркала ИК-Фурье-спектрометра, которое устраняет ошибку, связанную с излучением самого образца.
Эквивалентная схема измерения полусферически-направленного коэффициента отражения
Излучение источника равномерно освещает образец; пучок рассеянного излучения регистрируется под углом Q.
Характеристики продукта:
| Конфигурация измерительного прибора | Автоматический рефлектометр, снабженный 18-дюймовым полуэллипсоидом с нанесенным гальваническим методом покрытием, для совместного использования с современными спектрометрами. |
| Калибровка при проведении измерений | Сравнение спектров исследуемого образца и откалиброванного эталонного образца с зеркальной поверхностью золотого цвета для каждого угла и состояния поляризации обеспечивает точную калибровку при измерениях направленного коэффициента отражения. |
| Источник | Нагреваемая полость специальной конструкции, испускающая равномерное излучение в телесном угле 2π стерадиан в прилегающий полуэллипсоид через отверстие диаметром 0,75″, находящееся в одном из его фокусов. Полость помещена в рубашку с водяным охлаждением. Все поверхности полости, за исключением отверстия, снабжены высокоэффективной изоляцией Min-K. |
| Спектральный диапазон, мкм: - стандартная оптика - на твердой подложке |
2,0 - 25,0 14,0 - 200,0 |
| Детектор | Чувствительный детектор на основе дейтерированного триглицинсульфата (DTGS), не требующий охлаждения жидким азотом. Рассчитан на более широкий по сравнению с детекторами из HgCdTe диапазон длин волн. |
| Разрешение | В зависимости от требований к измеряемым данным может быть выбрано разрешение 2, 4, 8, 16 или 32 см–1. |
| Размеры образца | Стандартные размеры: 1″ (внешний диаметр). Крепление рассчитано на образцы размером до 3 x 4″. |
Вся представленная на сайте информация, касающаяся технических характеристик, наличия на складе, стоимости товаров, носит информационный характер и ни при каких условиях не является публичной офертой, определяемой положениями Статьи 437(2) Гражданского кодекса РФ.