Отдел продаж (812) 702-85-85
Наш адрес г. Санкт-Петербург,
ул. Руставели, д. 12
ОТКРЫТО ПН - ПТ : 08:00 - 18:00
Поиск по каталогу
Предыдущий
Рефлектометр/измеритель коэффициента излучения TEMP2000A
Следующий
Спектрорефлектометр лабораторный LPSR-300

Рефлектометр/измеритель коэффициента излучения TESA 2000

  • Производитель: AZ Technology
  • Модель - TESA 2000
  • Тип прибора - спектрорефлектометр
  • Диапазоны длин волн - от 250 до 2500 нм; от 3 до 35 мкм

По запросу

Рефлектометр/измеритель коэффициента излучения TESA 2000

Просмотров: 641

Прибор TESA 2000 от компании AZ Technology представляет собой высокотехнологичный портативный инструмент для определения коэффициента отражения и коэффициента поглощения солнечного излучения. Это компактный, легкий, надежный инструмент с эргономичным дизайном для использования в производственных условиях и в лаборатории.

TESA 2000, благодаря своей современной оптической системе, выступает в качестве  рефлектометра/измерителя коэффициента излучения, что позволяет измерять полную полусферическую отражательную способность в инфракрасной (ИК) и солнечной областях электромагнитного спектра.  

Специалисты компании AZ Technology имеют большой опыт в разработке портативных устройств и проведении исследований по определению оптических характеристик поверхностей. Поэтому конструктивные особенности прибора TESA 2000 не только обеспечивают выполнение требуемых функций, но и исключают возникновение проблем, с которыми специалисты компании сталкивались за годы работы с аналогичными портативными приборами. Модель TESA 2000 характеризует малое время прогревания, стабильность показателей, а также возможность эффективно исследовать различные поверхности со сложным геометрическим рельефом.

Для считывания, архивирования и визуализации результатов, полученных с помощью рефлектометра TESA 2000, используется программное обеспечение, устанавливаемое на хост-компьютере. Передача данных на ПК осуществляется с помощью стандартного последовательного интерфейса (кабель для последовательной передачи данных прилагается).

Оптическая система
Рефлектометр TESA 2000 оснащен оптической системой, специально разработанной для измерения излучательной способности в ИК-диапазоне и коэффициента поглощения солнечного излучения. Конструкция оптической системы рефлектометра TESA  2000, разработана специально для того, чтобы обеспечить малый коэффициент потерь, облегчить юстировку оптических элементов и обеспечить ее сохранение. Кроме того, эта конструкция позволяет использовать возможности запатентованного компанией AZ Technology полусферического коллектора для увеличения компактности устройства, сохраняя, при этом, эффективность работы прибора и точность измерений.
Портативный рефлектометр TESA 2000 состоит из двух разных оптических подсистем: ИК-подсистема и солнечная подсистема. Каждая подсистема состоит из источника и зеркал для направления энергии в коллектор. Система коллекторов и электроника одинаковы для обеих оптических систем.
Измерения проводятся посредством облучения образца при нормальном угле, с учетом поверхности, при помощи двух оптических подсистем. Для того чтобы корректно измерить коэффициент поглощения солнечного излучения и излучательную способность поверхности, оптическая система должна собирать всю отраженную\рассеянную энергию излучения с поверхности. AZ Technology удалось этого добиться, разработав удивительно компактный полусферический коллектор. Этот запатентованный оптический элемент забирает излучение от образца и направляет в детектор. Отражатель внутренней калибровки попеременно направляет падающий пучок света либо на детектор, либо на образец. Сравнивая падающее излучение с отраженным излучением, измеряется взвешенная отражательная способность образца. Эта отражательная способность вычитается, чтобы получить коэффициент поглощения солнечного излучения или излучательную способность в ИК-диапазоне, в зависимости от источника, который испускает свет на образец.

ИК подсистема
В оптической системе рефлектометра TESA 2000 используется источник ИК-излучения, цветовая температура которого соответствует цветовой температуре абсолютно черного тела в диапазоне длин волн от 3 до более чем 30 мкм при температуре 300 К. Таким образом, прибор обеспечивает измерение излучательной способности при комнатной температуре путем интегрирования по спектральному диапазону.
Прерываемый пучок света, который испускается источником, падает на апертуру под углом 12°, формируя в ее центре изображение образца. Энергия падающего потока не расходуется на изменение температуры образца независимо от типа исследуемого материала (фольга или диэлектрик).
Приблизительно 99 % энергии потока, отраженного от образца, рассеивается в пределах телесного угла 2π стерадиан, образуемого полусферой, и попадает на пироэлектрический детектор, не имеющий окон. Благодаря специальному покрытию детектор имеет плоскую частотную характеристику в дальнем ИК-диапазоне.
При использовании полусферического коллектора особенно важно размещать образцы с рассеивающей поверхностью как можно ближе к измерительной апертуре, чтобы минимизировать потери отраженного светового потока. Образцы с отражающей поверхностью меньше рассеивают свет, поэтому точность измерений при исследовании таких образцов не так сильно зависит от их положения.

Солнечная подсистема
Оптическая система TESA 2000 использует солнечный источник, который обеспечивает излучение, которое очень близко к солнечному при нулевой воздушной массе от 250 нм до 2500 нм (как определяет стандарт Американского общества специалистов по испытаниям материалов E-490).
Прерываемый пучок света, который испускается источником, падает на апертуру под углом 12°, формируя в ее центре изображение образца.
Приблизительно 99 % энергии потока, отраженного от образца, рассеивается в пределах телесного угла 2π стерадиан, образуемого полусферой, и попадает на пироэлектрический детектор, не имеющий окон. Благодаря специальному покрытию детектор имеет плоскую частотную характеристику в дальнем ИК-диапазоне.
При использовании полусферического коллектора особенно важно размещать образцы с рассеивающей поверхностью как можно ближе к измерительной апертуре, чтобы минимизировать потери отраженного светового потока. Образцы с отражающей поверхностью меньше рассеивают свет, поэтому точность измерений при исследовании таких образцов не так сильно зависит от их положения.

Характеристики продукта:

Диапазон длин волн:
ИК-область, мкм
Солнечная область, нм

от 3 до 35
от 250 до 2500
Погрешность измерений (для образцов с отражающей и рассеивающей поверхностью), % от верхнего граничного значения диапазона измерений:
для образцов со свойствами серого тела
для образцов, не обладающих свойствами серого тела



±1
±3
Воспроизводимость, % от верхнего граничного значения диапазона измерений ± 0,5
Минимальный размер образца, мм, не менее 10,0
Тип образца любые образцы, включая фольгу, тонкие пленки и диэлектрики
Геометрия образца:
вогнутые поверхности, минимальный радиус, мм
выпуклые поверхности, минимальный радиус, мм

165
12,5
Режим вывода данных на дисплей коэффициент излучения (e) в ИК-диапазоне, коэффициент отражения (р) в ИК-диапазоне и коэффициента поглощения солнечного излучения (α)
Питание:
от сети переменного тока, В/Гц
от сети постоянного тока, В*А

120/60 или 230/50
12 на 1,5

Вся представленная на сайте информация, касающаяся технических характеристик, наличия на складе, стоимости товаров, носит информационный характер и ни при каких условиях не является публичной офертой, определяемой положениями Статьи 437(2) Гражданского кодекса РФ.

Вы смотрели